10 ЛЕТ УСПЕШНОЙ РАБОТЫ НА РЫНКАХ ТЯЖЕЛОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ РОССИИ И В СТРАНАХ СОДРУЖЕСТВА НЕЗАВИСИМЫХ ГОСУДАРСТВ
Москва, ул. пр-т Мира д.19/1. Тел.: 8 (499) 753-00-10


Промышленные Томографы Nikon Metrology


Все томографы Nikon Metrology могут быть использованы в качестве лабораторных приборов, так и встроены (интегрированы) в техпроцесс производства с высокой степенью автоматизации контроля и выдачей результата.





Система XTH 225

Основными преимуществами данной системы является относительно низкая цена и её универсальность. Применяется для контроля композитных материалов, кернов, керамических изделий, музейных экспонатов, отливок из легких материалов, небольших сборочных узлов. Идеальное решение для лабораторного использования.



Система XTH 225 ST

Преимуществом системы является возможность установки детекторов типа Perkin Elmer с активной площадью 400*400 мм, с размером пикселя 200*200 мкм или 100*100 мкм. Увеличенная нагрузка на манипулятор (до 50 кг) расширяет спектр решаемых задач по сравнению с системой XTH 225.



Система MCT 225

Преимуществом данной системы является ее метрологическая точность благодаря специально разработанной конструкции. Система MCT 225 внесена в реестр средств измерений. Предназначена для высокоточного измерения изделий и сборочных узлов.



Система XTH 225/320

В данной системе может быть применены 2 типа рентгеновских источников: 225 кВ источник и 320 кВ интегрированный модуль. Источник 225 кВ предназначен для работы с более мелкими изделиями, для получения наилучшего разрешения, 320 кВ источник применяется для контроля изделий более крупногабаритных изделий из более плотных материалов (сталь, чугун).



Система XTH 450

Предназначена для контроля турбинных лопаток, широкохордных вентиляторных лопаток, деталей и сборных узлов машин, корпусов редукторов, двигателей и пр.







Есть вопрос? Мы готовы помочь!


Наши менеджеры всегда на связи и готовы общаться. Напишите нам по электронной почте или просто заполните форму запроса, и мы обязательно перезвоним в самое ближайшее время.

Форма запроса